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URI de l'entité : http://www.idref.fr/078666260/idCopier cet URI
Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Lamberti, Carlo

Sur le web

Information

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Langue d'expression : anglais
Pays : Italie
Genre : Masculin

Notes

Note publique d'information : 
Chercheur. En poste à l'Université de Turin, Département de chimie inorganique, physique et des matériaux (en 2004)

Identifiants externes

Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/39715981
Identifiant ORCID : 0000-0001-8004-2312
Identifiant SCOPUS : 26643361800
Identifiant ARK BNF : http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb159210451
Identifiant ISNI : 0000000116256092

Source

The use of synchrotron radiation techniques in the characterization of strained semiconductor heterostructures and thin films / C. Lamberti. - Numéro spécial de : "Surface science reports", vol. 53, n. 1-5, 2004

... Références liées : ...