Caractérisation électrique de transistors MOS à grille enrobante pour les technologies
CMOS sub-45nm [Thèse 2006] / Antoine Cros
Information trouvée : directeur de thèse à l'Institut national polytechnique de Grenoble
Contribution à la modélisation et à l'extraction des paramètres de tension de seuil,
de résistance série et de réduction de longueur dans les transistors MOS submicroniques
/ Hugues Brut ; sous la direction de Gérard Ghibaudo, 1996.- Thèse de doctorat : Optique,
optoélectronique et microondes : Grenoble INPG : 1996