Internet, https://ieeexplore.ieee.org/author/37275648500, 2024-03-19
Métrologie des techniques de microscopie à sonde locale micro-onde appliquées aux
mesures de transport dans le domaine des semiconducteurs / Metrology of scanning microwave
microscopy applied to transport measurement for semiconductors / par Damien Richert
; sous la dir. de Brice Gautier et de François Piquemal [Thèse doctorat : Electronique,
Electrotechnique, Automatique : Lyon, INSA : 2024]
Information trouvée : Président du jury
Technologie de transistors à effet de champ pour applications en grand signal hyperfréquence
/ par Didier Théron [HDR]