Caractérisation électrique et modélisation des transistors FDSOI sub-22nm / Minju
Shin ; sous la direction de Mireille Mouis et Gyu-Tae Kim. Thèse de doctorat : Nanoélectronique
et nanotechnologie : Grenoble Alpes : 2015
Information trouvée : CNRS / IMEP-LAHC
Contribution à l'étude du bruit basse fréquence et à la modélisation des transistors
des technologies CMOS avancées [thèse 2002] / Fadlallah Mouenes
Étude du transport dans les couches minces de silicium sur isolant et dans les couches
d'inversion des TMOS : étude de la cinétique d'oxydation thermique du silicium : [thèse
soutenue sur un ensemble de travaux] / Gérard Ghibaudo, 1984. - Thèse d'État : Sciences
physiques : Grenoble INPG : 1984 ; DE 169
Études des propriétés électroniques des semiconducteurs à l'aide du pouvoir thermo-électrique
: application à la caractérisation du silicium sur isolant et du tellurure de plomb
/ par Gérard Ghibaudo, 1981. - Thèse de docteur-ingénieur : Électronique : Grenoble
INPG : 1981 ; DI 229