Diagnostic de pannes dans les circuits logiques : développement d'une méthode ciblant
un ensemble élargi de modèles de fautes / Alexandre Rousset ; sous la direction de
Patrick Girard
Internet, www.annuaire.univ-montp2.fr/index.php, 2007-01-11
Information trouvée : activité
Resistive memory co-design in CMOS technologies / Hussein Bazzi ; sous la direction
de Hassen Aziza. Thèse de doctorat : Sciences pour l'ingénieur. Micro et nanoélectronique
: Aix-Marseille : 2020. Site internet consulté en 2022: https://fr.linkedin.com/in/patrick-girard-8a718736
Réduction de puissance durant le teste par scan des circuits intégrés / Nabil Badereddine
; sous la direction de Patrick Girard [thèse]
Vers un environnement générique d'aide au développement d'applications interactives
de simulation de métamorphoses / Fabrice Depaulis, 2002 [thèse]