Défauts induits par implantation d'ions légers ou irradiation électronique dans les
semi-conducteurs à base silicium / Marie-Laure David, 2003 [thèse]
Développement d'une approche basée sur la microscopie électronique en transmission
filtrée en énergie pour la détermination des propriétés physiques de bulles d'hélium
dans le silicium / Kévin Alix, 2016
Information trouvée : Maître de conférences, Université de Poitiers