Caractérisation et modélisation du bruit en 1-f de transistors MOS issus de technologies
CMOS à 0,25 [micromètres] et 0,18 [micromètres] / Arsène Eya'a Mvongbote ; sous la
dir. de Matteo Valenza et Alain Hoffmann, 2003
Internet, www.annuaire.univ-montp2.fr/index.php, 2007-01-11
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