Internet, http://tima.imag.fr, 2005-10-11
Les limites technologiques du silicium et tolérance aux fautes / Lorena Anghel ; sous
la direction de Mihail Nicolaidis, 2000. - Thèse de doctorat : Microélectronique :
Grenoble INPG : 2000
Méthodes de simulation des erreurs transitoires à plusieurs niveaux d'abstraction
[Thèse 2005] / Susi Saleh
Information trouvée : directeur de thèse à l'Institut national polytechnique de Grenoble