Stratégies de modélisation et protection vis à vis des décharges électrostatiques
(ESD) adaptées aux exigences de la norme du composant chargé (CDM) / par Yuan Gao
; sous la dir. de Marise Bafleur [Thèse de doctorat : Conception des Circuits Microélectroniques
et Microsystèmes, INPT : 2009]