Identifiant pérenne de la notice : 174313853
Notice de type Rameau
Laser Voltage Imaging : new perspective using second harmonic detection on submicron
technology [in] Conference proceedings from the 38th International Symposium for Testing
and Failure Analysis, 2012
Étude, applications et améliorations de la technique LVI sur les défauts rencontrés
dans les technologies CMOS avancées 45nm et inférieur / G. Celi, 2013 [thèse]
Le point d'accès ne peut être employé que dans un point d'accès sujet
Le point d'accès ne peut s'employer qu'en élément initial