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URI de l'entité : http://www.idref.fr/253119693/idCopier cet URI
Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Koohestani, Mohsen (19..-....)

Sur le web

Information

(par souci de protection des données à caractère personnel, le jour et le mois de naissance peuvent ne pas être affichés)
Date de naissance :    19XX

Notes

Note publique d'information : 
Enseignant-Chercheur HDR, ESEO, Angers (2023)

Identifiants externes

Identifiant HAL : mohsen-koohestani
Identifiant ORCID : 0000-0003-2194-3799
Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/60161512110470561368

Source

Degradation and Lifetime Reliability Models to Assess the Electromagnetic Compatibility Performance of Integrated Circuits Under Environmental Constraints / Md Jaber Al Rashid ; sous la direction de Mihaela Barreau et Laurent Saintis et Mohsen Koojestani. Thèse de doctorat : Électronique, signal, génie industriel : Angers : 2023

Information trouvée : Enseignant-Chercheur HDR, ESEO, Angers
M. Koohestani, M. Golpour. U-shaped microstrip patch antenna with novel parasitic tuning stubs for ultra wideband applications. IET MICROWAVES ANTENNAS & PROPAGATION, 2010, 4 (7), pp.938. (10.1049/iet-map.2009.0049). (hal-02335076)

... Références liées : ...