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Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Bercion, Yves (19..-....)

Sur le web

Information

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Date de naissance :    19XX

Identifiants externes

Identifiant HAL : yves-bercion
Identifiant ORCID : 0000-0003-1735-4983
Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/27161512238970562640

Source

David Himmel, J.L Mansot, Y. Bercion, Antonius Lubrecht. In situ raman microspectrometry of lubricated trigologic contacts. Part two : simultaneous measurements of pressure, lubricant film thickness and temperature distributions in a running EHD contact. Tribology Letters, Springer Verlag, 2011, 41, pp.131-144. (hal-00577050)

... Références liées : ...